蔡司場發射掃描電鏡SIGMA 300

 【品牌故事】 

         世界可見光及電子光學的領軍企業——德國蔡司公司始創於1846年。其 電子光學前身為LEO（裏奧），更早叫Cambridge（劍橋）和Zeiss。積掃描電鏡領域40多年及透射電鏡領域60年的經驗，電子光學成像技術在世界上創造了數個裏程碑：

        作為一家電子光學產品提供商，丝瓜app色版下载將為您提供完善的納米技術解決方案，並且以專業化的手段讓您的投資物有所值。無論您是企業還是科研機構，卡爾 蔡司在高質量電子光學係統方麵優良的傳統都會為您的業績做出積極的貢獻。

【掃描電鏡顯微鏡鏡SIGMA 300核心技術】
        蔡司公司推出Sigma300場發射掃描電鏡采用成熟的GEMINI光學係統設計，將低電壓成像技術發揮到了極zhi，采用適宜的探針電流範圍，降低50%的信噪比從而提升了85%的襯度信息。Sigma300將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合，多種探測器可選：用於顆粒、表麵或者納米結構成像。Sigma自動的四步工作流程大大節省了設置與分析操作的時間，提高效率。

【技術參數】

分辨率：1.0nm@30kV STEM 

                1.0nm @15 kV  

                1.8nm @1kV

放大倍數：10-1,000,000×

加速電壓：調整範圍：0.02-30 kV（無需減速模式實現）

探針電流： 3pA～20nA（100nA選配）  穩定性優於 0.2%/h

低真空範圍： 2-133Pa （Sigma 300VP可用）

樣品室： 365 mm（φ），275mm（h）

樣品台：5軸優中心全自動   

                 X=125mm

                 Y=125 mm

                 Z=50 mm

                 T=-10º-90º

                 R=360º 連續

係統控製：基於Windows 7的SmartSEM操作係統，可選鼠標、鍵盤、控製麵板控製

存儲分辨率：32k x 24k pixels

【產品應用】       
       掃描電鏡顯微鏡廣泛地應用於金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等 檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分 析和失效分析，材料實時微區成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素麵掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶 粒取向測量。