蔡司裂變徑跡顯微分析係統：對兩個樣本對應區域進行自動鏡像精準定位、對比統計；能自動完成礦物顆粒分析、徑跡數目統計、測量徑跡與C軸角度、測量Dpar、Dper值，依據自發徑跡密度和誘發徑跡密度計算裂變徑跡表觀年齡。係統還可為客戶提供岩礦分析等其他研究工作。

訪問量：137

產品日期：2020-05-20

￥麵議