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- 蔡司裂變徑跡顯微分析係統
蔡司裂變徑跡顯微分析係統:對兩個樣本對應區域進行自動鏡像精準定位、對比統計;能自動完成礦物顆粒分析、徑跡數目統計、測量徑跡與C軸角度、測量Dpar、Dper值,依據自發徑跡密度和誘發徑跡密度計算裂變徑跡表觀年齡。係統還可為客戶提供岩礦分析等其他研究工作。
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- 產品日期:2020-05-20 ¥麵議